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本書は、先に刊行された「サブミクロンデバイス1」の続編として、サブミクロンデバイスの抱える最重要課題を根底から詳説するものである。
1 序論2 比例縮小則とデバイス性能3 ゲート絶縁膜の信頼性4 ホットキャリア注入現象5 ソフトエラー
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