出版社内容情報
廣野元久［ヒロノモトヒサ］
著・文・その他
遠藤 幸一［エンドウ コウイチ］
著・文・その他
内容説明
ＪＭＰによる正確な製品寿命予測で従来の方法からの脱却。信頼性の基礎と多種の寿命予測方法、新たな信頼性技術を含んだ体系的な解説書。
目次
第１章 信頼性活動における寿命データの取り扱い
第２章 一変量の分布
第３章 寿命の二変量の関係
第４章 加速試験のデータ分析
第５章 ステップストレス試験のデータ分析
第６章 劣化や破壊データの分析
第７章 修理系システムの傾向分析
第８章 信頼性向上活動の評価
第９章 寿命データの多変量解析
著者等紹介
廣野元久［ヒロノモトヒサ］
株式会社リコー。ＮＡ事業部ＳＦ事業センタ所長、ヘルスケア事業本部品質保証・薬事推進室長を経て、リコー倫理審査委員会委員。東京理科大学工学部経営工学科非常勤講師（１９９７‐１９９８）。慶應義塾大学総合政策学部非常勤講師（２０００‐２００４）
遠藤幸一［エンドウコウイチ］
株式会社東芝、東芝デバイス＆ストレージ株式会社パワーＩＣ製品技術部、ディスクリート半導体信頼性技術部など。パワーＩＣの製品開発、故障解析などを担当（～２０２１）。電気通信大学非常勤講師（２０２１～）。桜美林大学非常勤講師（２０２１～）。国立研究開発法人産業技術総合研究所先進パワーエレクトロニクス研究センター招聘研究員（２０２１～）。日本信頼性学会理事（２０１７～）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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