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目次
外観形状のセンシング
光センサとその利用法
検査アルゴリズム
信号レベル解析による欠陥検出回路
２次元画像処理による欠陥検出
検査装置の試作
性能の検討
東京都公安委員会 古物商許可番号 304366100901
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