内容説明
膨大な裁判例から特許権侵害の判断基準を提示！！知的財産実務担当者の必読書、待望の改訂！２００件を超える関係判例の分析、ポイントの整理等によって、特許権侵害訴訟の実務を詳細かつわかりやすく解説！
目次
第１章 特許権侵害判断の手法と特許権侵害を肯定することができるための条件
第２章 「特許発明の技術的範囲」の確定のあり方
第３章 機能的表現の文言とファンクション・クレーム（機能的クレーム）
第４章 オール・エレメント・ルールと「特許発明の技術的範囲」の属否
第５章 プロダクト・バイ・プロセス・クレーム
第６章 均等侵害
著者等紹介
永野周志［ナガノチカシ］
弁護士。１９４８年生まれ、１９６９年司法試験合格、九州大学法学部卒業。九州大学大学院法学研究院客員教授（１９９９～２００２年）、株式会社産学連携機構九州取締役（九州大学ＴＬＯ、２００１～２００２年）等を務める。現在、シード綜合法律事務所に在籍（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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