内容説明
理論と技術、装置全般の原理や法廷方法など「LSIのテスト」を体系化。
目次
1編 LSI製造工程と検査・解析(設計工程:テスト設計;マスク製造工程 ほか)
2編 歩留り解析(歩留り解析;マスク解析 ほか)
3編 故障解析(故障現象概論;故障解析の流れ ほか)
4編 ツールの原理(光;X線 ほか)
理論と技術、装置全般の原理や法廷方法など「LSIのテスト」を体系化。
1編 LSI製造工程と検査・解析(設計工程:テスト設計;マスク製造工程 ほか)
2編 歩留り解析(歩留り解析;マスク解析 ほか)
3編 故障解析(故障現象概論;故障解析の流れ ほか)
4編 ツールの原理(光;X線 ほか)