蛍光X線分析の実際 (第2版)

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蛍光X線分析の実際 (第2版)

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  • サイズ B5判/ページ数 265p/高さ 26cm
  • 商品コード 9784254141030
  • NDC分類 433.5
  • Cコード C3043

出版社内容情報

基礎項目を平易に解説し,豊富な応用事例も掲載した実務家必携のマニュアル。

中井 泉[ナカイイズミ]
東京理科大学教授

日本分析化学会X線分析研究懇談会[ニホンブンセキカガクカイエックスセンブンセキケンキュウコンダンカイ]

目次

蛍光X線分析の基礎
蛍光X線スペクトル
蛍光X線分析装置
よりよいスペクトルの測り方、読み方
試料調製法
定量分析
標準物質
全反射蛍光X線分析法
X線顕微鏡
SEM‐EDS
めっき・薄膜の分析
ヘンドヘルド蛍光X線分析計
放射光利用
新しいアプローチと特殊応用
蛍光X線分析の実際:応用事例集
分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項
法令と届出

著者等紹介

中井泉[ナカイイズミ]
1953年東京都に生まれる。1975年東京教育大学理学部化学科卒業。1980年筑波大学大学院化学研究科博士課程修了(理学博士)。1982年筑波大学化学系助手。1984年筑波大学化学系講師。1994年東京理科大学理学部助教授。1998年東京理科大学理学部教授(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。