目次
蛍光Ｘ線分析の基礎
蛍光Ｘ線スペクトル
蛍光Ｘ線分析装置
よりよいスペクトルを測定するためのテクニック
試料調製法
定量分析
標準物質
全反射蛍光Ｘ線分析
Ｘ線顕微鏡
ＳＥＭ‐ＥＤＳ
めっき・薄膜の分析
超薄膜の分析
蛍光Ｘ線分析の実際：応用事例集
放射光利用
分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項
法令と届出（蛍光Ｘ線分析装置の場合）
著者等紹介
中井泉［ナカイイズミ］
１９５３年東京都に生まれる。１９８０年筑波大学大学院化学研究科博士課程修了。東京理科大学理学部応用化学科・教授。理学博士（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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