ラマン分光法の基礎と応用

吉川 正信【著】

講談社（2026/05発売）

• サイズ A5判／ページ数 240p／高さ 21cm
• 商品コード 9784065421789
• NDC分類 433.5
• Cコード C3043

出版社内容情報

第一線で活躍した企業研究者がラマン分光法の基礎から実際の測定例を解説。初心者からマスタークラスの研究者にまで満足していただける１冊！

第1章　はじめに

第2章　ラマン分光法の原理

2.1　ラマン分光法の光学系
2.2　励起レーザー光の種類
2.3　分光器の種類
2.4　検出器の種類

第3章　種々の測定法

3.1　全反射ラマン測定法
3.2　電場の増強を利用する表面分析法
3.3　共鳴ラマン効果を利用した薄膜・表面分析法

第4章　測定例：半導体材料およびデバイス

4.1　半導体
4.2　シリコン酸化膜の構造解析
4.3　混晶半導体Si1-xGexの組成・結晶性評価
4.4　光通信用InPダイオードの応力評価
4.5　ワイドギャップ半導体(GaN系)のラマン散乱
4.6　ワイドギャップ半導体(SiC)のラマン散乱
4.7　ワイドギャップ半導体(ZnO)のラマン散乱
4.8　ダイヤモンドのラマン散乱
4.9　次世代層状半導体の低波数ラマン散乱
4.10　次世代ワイドギャップ半導体(Ga2O3)

第5章　測定例：工業材料およびライフサイエンス分野

5.1　ポリマー材料の配向および結晶性評価
5.2　エポキシ樹脂の応力評価
5.3　ポリマーの応力評価
5.4　硫化物固体電解質の構造評価
5.5　In situ燃料電池の構造評価
5.6　薬剤とがん組織の構造評価
5.7　エクソソームの構造評価
5.8　人間の皮膚年齢の評価

第6章　深紫外(DUV)および紫外(UV)ラマン分光法

6.1　DUVおよびUVラマン分光法の光学系
6.2　DUVおよびUVラマン分光法の測定例

第7章　近赤外ラマン分光法

7.1　近赤外領域での測定のメリット
7.2　測定装置
7.3　測定例

第8章　ナノラマン分光法

8.1　ナノラマン分光法の概要
8.2　走査型近接場光学顕微鏡(SNOM)
8.3　チップ増強ラマン散乱(TERS)

第9章　光・光熱赤外ラマン分光法(O-PTIR)

9.1　原理
9.2　測定例



【目次】

第1章　はじめに

第2章　ラマン分光法の原理

2.1　ラマン分光法の光学系
2.2　励起レーザー光の種類
2.3　分光器の種類
2.4　検出器の種類

第3章　種々の測定法

3.1　全反射ラマン測定法
3.1.1　原理
3.1.2　測定方法・装置
3.1.3　ナイロンフィルム上のPETフィルムの分析例
3.1.4　MNBA単結晶の屈折率分布の分析例
3.2　電場の増強を利用する表面分析法
3.2.1　表面増強ラマン散乱(SERS)効果を利用した最表面分析法
3.3　共鳴ラマン効果を利用した薄膜・表面分析法
3.3.1　共鳴ラマン効果の原理
3.3.2　共鳴ラマン効果の分析例

第4章　測定例：半導体材料およびデバイス

4.1　半導体
4.1.1　ダイヤモンド構造型半導体の結晶方位評価
4.1.2　シリコン系半導体の応力評価
4.2　シリコン酸化膜の構造解析
4.3　混晶半導体Si1-xGexの組成・結晶性評価
4.4　光通信用InPダイオードの応力評価
4.5　ワイドギャップ半導体(GaN系)のラマン散乱
4.6　ワイドギャップ半導体(SiC)のラマン散乱
4.7　ワイドギャップ半導体(ZnO)のラマン散乱
4.8　ダイヤモンドのラマン散乱
4.8.1　ダイヤモンド薄膜
4.8.2　Fano効果
4.8.3　ナノダイヤモンド
4.8.4　アモルファスダイヤモンド
4.9　次世代層状半導体の低波数ラマン散乱
4.10　次世代ワイドギャップ半導体(Ga2O3)

第5章　測定例：工業材料およびライフサイエンス分野

5.1　ポリマー材料の配向および結晶性評価
5.2　エポキシ樹脂の応力評価
5.3　ポリマーの応力評価
5.4　硫化物固体電解質の構造評価
5.5　In situ燃料電池の構造評価
5.6　薬剤とがん組織の構造評価
5.7　エクソソームの構造評価
5.8　人間の皮膚年齢の評価

第6章　深紫外(DUV)および紫外(UV)ラマン分光法

6.1　DUVおよびUVラマン分光法の光学系
6.2　DUVおよびUVラマン分光法の測定例

第7章　近赤外ラマン分光法

7.1　近赤外領域での測定のメリット
7.2　測定装置
7.3　測定例
7.3.1　ポリマー・医薬材料
7.3.2　有機EL膜の構造評価
7.3.3　Low-k膜の構造評価
7.3.4　半導体のキャリア濃度評価

第8章　ナノラマン分光法

8.1　ナノラマン分光法の概要
8.2　走査型近接場光学顕微鏡(SNOM)
8.3　チップ増強ラマン散乱(TERS)

目次

第１章　はじめに
第２章　ラマン分光法の原理
第３章　種々の測定法
第４章　測定例：半導体材料およびデバイス
第５章　測定例：工業材料およびライフサイエンス分野
第６章　深紫外（ＤＵＶ）および紫外（ＵＶ）ラマン分光法
第７章　近赤外ラマン分光法
第８章　ナノラマン分光法
第９章　光・光熱赤外ラマン分光法（Ｏ‐ＰＴＩＲ）

著者等紹介

吉川正信［ヨシカワマサノブ］
１９８６年、大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻博士課程修了。工学博士。株式会社東レ入社。株式会社東レリサーチセンター代表取締役社長を経て、現在、同社技術・経営顧問（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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