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内容説明
今日の半導体産業の超LSI素子では、1ミリメートルの1万分の1単位の大きさのチリが、20センチメートル程度のシリコン基盤の上に1個も見つからないという、気の遠くなるような清浄さが目標とされています。そのためにも、原子の数を1つ1つ数えるのに等しいレベルで固体表面を観察し、分析する技術が要求されます。ことは半導体産業に限りません。ナノテクノロジーの申し子のようなこれらの表面分析法について、その基本原理から用途まで、わかりやすく紹介しましょう。
目次
第1章 序にかえて―ナノテクノロジーの世界へ
第2章 微小領域の表面世界をさぐるオージェ電子分光法
第3章 商品開発の名アシスタント・ESCA
第4章 極微量の不純物を分析するSIMS
第5章 表面分析装置のもっとも効果的な使い方
第6章 最新ナノテクノロジー表面分析器