Cheng, Long (EDT)/ Leung, Andrew Chi Sing (EDT)/ Ozawa, Seiichi (EDT)
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Chen, Xuemin (EDT)/ Sen, Arunabha (EDT)/ Li, Wei Wayne (EDT)
Ricci, Elisa (EDT)/ Rota Bulò, Samuel (EDT)/ Snoek, Cees (EDT)
Herrera, Francisco/ Ventura, Sebastián/ Bello, Rafael
Lladós, Josep (EDT)/ Lopresti, Daniel (EDT)/ Uchida, Seiichi (EDT)
Llados, Josep (EDT)/ Lopresti, Daniel (EDT)/ Uchida, Seiichi (EDT)
Greenspan, Hayit (EDT)/ Madabhushi, Anant (EDT)/ Mousavi, Parvin (EDT)
Manfredi, Luigi (EDT)/ Ahmadi, Seyed-Ahmad (EDT)/ Bronstein, Michael (EDT)
Feld, Sebastian
Herausgegeben von Dastani, Mehdi/ El Fallah Seghrouchni, Amal/ Huebner, Jomi/ Leite, Joao
Herausgegeben von Croitoru, Madalina/ Rudolph, Sebastian/ Wilson, Nic/ Howse, John/ Corby, Olivier
Herausgegeben von Rahwan, Iyad/ Wobcke, Wayne/ Sen, Sandip/ Sugawara, Toshiharu
Herausgegeben:Dassan, Paulraj/ Thirumaaran, Sethukarasi/ Subramani, Neelakandan
Progress in Pattern Recognition, Image Analysis, Computer Vision, and Applications/ Herausgegeben:Herná/ndez-Garcí/a, Ruber/ Barrientos, Ricardo J./ Velastin, Sergio A.
Ed. by M. Koubarakis, Timos Sellis, A. Frank et al
Bebis, George (EDT)/ Boyle, Richard (EDT)/ Parvin, Bahram (EDT)
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