VLSI DESIGN AND TECHNOLOGY : DESIGN FOR TESTABILITY (2022. 148 S. 220 mm)
  • 洋書
  • ポイントキャンペーン

VLSI DESIGN AND TECHNOLOGY : DESIGN FOR TESTABILITY (2022. 148 S. 220 mm)  Paperback

Mudavath, Mahesh/Divya, Nune/Reddy, T. Vasudeav

  • ウェブストア価格 ¥18,030(本体¥16,391)
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING(2022発売)
  • ポイント 326pt
  • オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。