Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in
  • 洋書

Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in  Paperback

Watson, Gregory Shaun/ Watson, Jolanta A.

  • ウェブストア価格 ¥14,683(本体¥13,349)
  • VDM Verlag Dr. Mueller E.K.(2008/06発売)
  • ポイント 133pt
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