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ＶＬＳＩ試験の原理とアーキテクチャ<br>VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability
  • 洋書

ＶＬＳＩ試験の原理とアーキテクチャ
VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability  Hardcover,  言語：ENG

Wang, Laung-Terng/ Wu, Cheng-Wen/ Wen, Xiaoqing

  • ウェブストア価格 ¥18,744（本体¥17,040）
  • Morgan Kaufmann Publishers In（2006/08発売）
  • ポイント 170pt
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System-on-Chip Test Architectures : Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)
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System-on-Chip Test Architectures : Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)  Hardcover,  言語：ENG

Wang, Laung-Terng/ Stroud, Charles E./ Touba, Nur A.

  • ウェブストア価格 ¥17,701（本体¥16,092）
  • Morgan Kaufmann Publishers In（2008/01発売）
  • ポイント 160pt
  • 海外からお取り寄せ（通常6～9週間）
Electronic Design Automation : Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)
  • 洋書
  • 電子版あり

Electronic Design Automation : Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)  Hardcover,  言語：ENG

Wang, Laung-Terng (EDT)/ Chang, Yao-Wen (EDT)/ Cheng, Kwang-Ting (Tim) (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥22,921（本体¥20,838）
  • Morgan Kaufmann Publishers In（2009/03発売）
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  • 海外からお取り寄せ（通常6～9週間）
VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability
  • 洋書

VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability  Paperback,  言語：ENG

Wang, Laung-Terng/ Wu, Cheng-Wen/ Wen, Xiaoqing

  • ウェブストア価格 ¥18,744（本体¥17,040）
  • Morgan Kaufmann Publishers（2006/07発売）
  • ポイント 170pt
  • 海外からお取り寄せ（通常6～9週間）
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