Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach  Paperback,  言語:ENG

Lall, Pradeep/ Pecht, Michael/ Hakim, Edward B.

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  • CRC Press(2019/06発売)
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Mechanical Design of Electronic Systems
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Mechanical Design of Electronic Systems  Paperback

Dally, James W./ Lall, Pradeep/ Suhling, Jeffrey C.

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