1～2件／全2件 セーフサーチON
  •  
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
  • 洋書
  • ポイントキャンペーン

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)  Paperback,  言語：ENG

Goel, Sandeep K. (EDT)/ Chakrabarty, Krishnendu (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥23,696（本体¥21,542）
  • CRC Press（2017/03発売）
  • ポイント 430pt
  • 海外取次在庫
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
  • 洋書
  • 電子版あり
  • ポイントキャンペーン

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)  Hardcover,  言語：ENG

Goel, Sandeep K. (EDT)/ Chakrabarty, Krishnendu (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥58,163（本体¥52,876）
  • CRC Press Inc（2013/10発売）
  • ポイント 1,056pt
  • 海外からお取り寄せ（通常6～9週間）
1～2件／全2件
  •