Semiconductor Process Reliability in Practice
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Semiconductor Process Reliability in Practice  Hardcover,  言語:ENG

Gan, Zhenghao/ Wong, Waisum/ Liou, Juin

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  • McGraw-Hill Professional(2012/11発売)
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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (Springer Series in Reliability Engineering) (2011)
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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (Springer Series in Reliability Engineering) (2011)  Paperback,  言語:ENG

Tan, Cher Ming/ Li, Wei/ Gan, Zhenghao

  • ウェブストア価格 ¥24,158(本体¥21,962)
  • Springer London Ltd(2013/04発売)
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