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Machine Learning Algorithms for Signal and Image Processing
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Machine Learning Algorithms for Signal and Image Processing  言語：ENG

Ghai, Deepika (EDT)/Tripathi, Suman Lata (EDT)/Saxena, Sobhit (EDT)/Chanda, Manash (EDT)/Alazab, Mamoun (EDT)

  • 価格 ¥20,348（本体¥18,499）
  • Wiley-IEEE Press（2022/11/18発売）
  • ポイント 184pt　（実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい）
Advanced VLSI Design and Testability Issues
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Advanced VLSI Design and Testability Issues  言語：ENG

Tripathi, Suman Lata (EDT)/Saxena, Sobhit (EDT)/Mohapatra, Sushanta Kumar (EDT)

  • 価格 ¥9,010（本体¥8,191）
  • CRC Press（2020/08/18発売）
  • ポイント 81pt　（実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい）
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