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An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits : Introducing Fault-Tolerance With Higher Noise-Immunity For The Nano-Circuits As Compared To CMOS And MRF Designs （2011. 88 S.）
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An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits : Introducing Fault-Tolerance With Higher Noise-Immunity For The Nano-Circuits As Compared To CMOS And MRF Designs （2011. 88 S.）  Paperback

Anwer, Jahanzeb/ Hisham Bin Hamid, Nor/ Sagayan Asirvadam, Vijanth

  • ウェブストア価格 ¥12,261（本体¥11,147）
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING（2011発売）
  • ポイント 111pt
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