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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (Springer Series in Reliability Engineering) （2011）
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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (Springer Series in Reliability Engineering) （2011）  Paperback,  言語：ENG

Tan, Cher Ming/ Li, Wei/ Gan, Zhenghao

  • ウェブストア価格 ¥22,455（本体¥20,414）
  • Springer London Ltd（2013/04発売）
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Semiconductor Process Reliability in Practice
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Semiconductor Process Reliability in Practice  Hardcover,  言語：ENG

Gan, Zhenghao/ Wong, Waisum/ Liou, Juin

  • ウェブストア価格 ¥33,481（本体¥30,438）
  • McGraw-Hill Professional（2012/11発売）
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