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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)
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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)  Paperback,  言語：ENG

Zorian, Yervant (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥23,074（本体¥20,977）
  • Springer-Verlag New York Inc.（2012/10発売）
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Collaboration and Technology : 21st International Conference, CRIWG 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
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Collaboration and Technology : 21st International Conference, CRIWG 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)  Paperback,  言語：ENG

Baloian, Nelson (EDT)/ Zorian, Yervant (EDT)/ Taslakian, Perouz (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥11,535（本体¥10,487）
  • Springer International Publishing AG（2015/08発売）
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On Line-Testing for VLSI (Frontiers in Electronic Testing)
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On Line-Testing for VLSI (Frontiers in Electronic Testing)  Paperback,  言語：ENG

Nicolaidis, Michael (EDT)/ Zorian, Yervant (EDT)/ Pradhan, Dhiraj K. (

  • ウェブストア価格 ¥23,074（本体¥20,977）
  • Springer（2010/12発売）
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