1～4件／全4件 セーフサーチON
  •  
ＶＬＳＩ試験の原理とアーキテクチャ<br>VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability
  • 洋書

ＶＬＳＩ試験の原理とアーキテクチャ
VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability  Hardcover,  言語：ENG

Wang, Laung-Terng/ Wu, Cheng-Wen/ Wen, Xiaoqing

  • ウェブストア価格 ¥18,616（本体¥16,924）
  • Morgan Kaufmann Publishers In（2006/08発売）
  • ポイント 169pt
  • 海外からお取り寄せ（通常6～9週間）
System-on-Chip Test Architectures : Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)
  • 洋書

System-on-Chip Test Architectures : Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)  Hardcover,  言語：ENG

Wang, Laung-Terng/ Stroud, Charles E./ Touba, Nur A.

  • ウェブストア価格 ¥17,582（本体¥15,984）
  • Morgan Kaufmann Publishers In（2008/01発売）
  • ポイント 159pt
  • 海外からお取り寄せ（通常6～9週間）
Electronic Design Automation : Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)
  • 洋書
  • 電子版あり

Electronic Design Automation : Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)  Hardcover,  言語：ENG

Wang, Laung-Terng (EDT)/ Chang, Yao-Wen (EDT)/ Cheng, Kwang-Ting (Tim) (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥22,766（本体¥20,697）
  • Morgan Kaufmann Publishers In（2009/03発売）
  • ポイント 206pt
  • 海外からお取り寄せ（通常6～9週間）
VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability
  • 洋書

VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability  Paperback,  言語：ENG

Wang, Laung-Terng/ Wu, Cheng-Wen/ Wen, Xiaoqing

  • ウェブストア価格 ¥18,616（本体¥16,924）
  • Morgan Kaufmann Publishers（2006/07発売）
  • ポイント 169pt
  • 海外からお取り寄せ（通常6～9週間）
1～4件／全4件
  •