Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265 (Mrs Proceedings)
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Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265 (Mrs Proceedings)  Paperback,  言語:ENG

Thompson, C. V. (EDT)/ Lloyd, J. R. (EDT)

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  • Cambridge University Press(2014/06発売)
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Evolution of Thin-Film and Surface Microstructure : Symposium Held November 26-December 1, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Soc
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Evolution of Thin-Film and Surface Microstructure : Symposium Held November 26-December 1, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Soc  Hardcover,  言語:ENG

Thompson, C. V./ Tsao, J. Y./ Srolovitz, David J. (EDT)

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