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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, Vol. 22B)
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, Vol. 22B)  Hardcover,  言語：ENG

Nicolici, Nicola/ Al-Hashimi, Bashir

  • ウェブストア価格 ¥22,919（本体¥20,836）
  • Kluwer Academic Pub（2003/04発売）
  • ポイント 208pt
  • 海外取次在庫
Power-constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
  • 洋書

Power-constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)  Paperback,  言語：ENG

Nicolici, Nicola/ Al-Hashimi, Bashir M.

  • ウェブストア価格 ¥22,919（本体¥20,836）
  • Springer（2010/12発売）
  • ポイント 208pt
  • 海外取次在庫
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices （2010）
  • 洋書

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices （2010）  Paperback,  言語：ENG

Girard, Patrick (EDT)/ Nicolici, Nicola (EDT)/ Wen, Xiaoqing (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥25,003（本体¥22,730）
  • Springer-Verlag New York Inc.（2014/09発売）
  • ポイント 227pt
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