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Study of Defect States in Silicon Carbide （2013. 200 S. 220 mm）
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Study of Defect States in Silicon Carbide （2013. 200 S. 220 mm）  Paperback

Patnaik, Padmaja/ Mukhopadhyay, Gautam/ Singh, Prabhakar P.

  • ウェブストア価格 ¥18,712（本体¥17,011）
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING（2013発売）
  • ポイント 170pt
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WALCOM: Algorithms and Computation : 13th International Conference, WALCOM 2019, Guwahati, India, February 27 - March 2, 2019, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
  • 洋書
  • 電子版あり

WALCOM: Algorithms and Computation : 13th International Conference, WALCOM 2019, Guwahati, India, February 27 - March 2, 2019, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)  Paperback,  言語：ENG

Das, Gautam K. (EDT)/ Mandal, Partha S. (EDT)/ Mukhopadhyaya, Krishnendu (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥12,078（本体¥10,980）
  • Springer Nature Switzerland AG（2018/12発売）
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