Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics: Volume 612 (Mrs Proceedings)
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Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics: Volume 612 (Mrs Proceedings)  Paperback,  言語:ENG

Oehrlein, G. S. (EDT)/ Maex, K. (EDT)/ Joo, Y. -C. (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥8,074(本体¥7,340)
  • Cambridge University Press(2014/06発売)
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Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics : Proceedings of Symposium Helt April 23-27, 2000, San Francisc 〈612〉
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Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics : Proceedings of Symposium Helt April 23-27, 2000, San Francisc 〈612〉  Hardcover,  言語:ENG

Oehrlein, G. S. (EDT)/ Maex, K. (EDT)/ Joo, Y. C. (EDT)/ Ogawa, S. (ED

  • Materials Research Society(2001/05発売)
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