Measuring Success : Testing, Grades, and the Future of College Admissions
  • 洋書

Measuring Success : Testing, Grades, and the Future of College Admissions  Hardcover,  言語:ENG

Buckley, Jack (EDT)/ Letukas, Lynn (EDT)/ Wildavsky, Ben (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥11,128(本体¥10,117)
  • Johns Hopkins University Press(2018/03発売)
  • ポイント 101pt
  • 海外からお取り寄せ(通常6~9週間)