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Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry (Radon Series on Computational and Applied Mathematics 30) （2024. VIII, 190 S. 8 b/w and 2 col. ill. 240 mm）
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Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry (Radon Series on Computational and Applied Mathematics 30) （2024. VIII, 190 S. 8 b/w and 2 col. ill. 240 mm）  Hardcover

Herausgegeben:Quinto, Eric Todd/ Stefanov, Plamen D./ Uhlmann, Gunther

  • ウェブストア価格 ¥37,095（本体¥33,723）
  • DE GRUYTER（2024発売）
  • ポイント 337pt
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The Proceedings of the International Conference on Sensing and Imaging, 2018 (Lecture Notes in Electrical Engineering)
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The Proceedings of the International Conference on Sensing and Imaging, 2018 (Lecture Notes in Electrical Engineering)  Paperback

Quinto, Eric Todd (EDT)/ Ida, Nathan (EDT)/ Jiang, Ming (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥35,183（本体¥31,985）
  • Springer Nature Switzerland AG（2021/01発売）
  • ポイント 319pt
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