Transient Electromagnetic-Thermal Nondestructive Testing : Pulsed Eddy Current and Transient Eddy Current Thermography
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Transient Electromagnetic-Thermal Nondestructive Testing : Pulsed Eddy Current and Transient Eddy Current Thermography  Paperback,  言語:ENG

He, Yunze/ Gao, Bin/ Sophian, Ali

  • ウェブストア価格 ¥31,468(本体¥28,608)
  • Elsevier Science Publishing Co Inc(2017/05発売)
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Inductive Thermography Pattern Separation : Nondestructive Testing And Evaluation Mehod Using Inductive Thermography (2014. 128 S. 220 mm)
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Inductive Thermography Pattern Separation : Nondestructive Testing And Evaluation Mehod Using Inductive Thermography (2014. 128 S. 220 mm)  Paperback

Gao, Bin/ Yin, Aijun/ He, Yunze

  • ウェブストア価格 ¥13,581(本体¥12,347)
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING(2014発売)
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