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Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns
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Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns  Paperback,  言語：ENG

Hamdioui, Said

  • ウェブストア価格 ¥22,919（本体¥20,836）
  • Springer（2010/12発売）
  • ポイント 208pt
  • 海外取次在庫
Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns (Frontiers in Electronic Testing Vol.26) （2004. 240 p.）
  • 洋書

Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns (Frontiers in Electronic Testing Vol.26) （2004. 240 p.）  Hardcover,  言語：ENG

Hamdioui, Said

  • ウェブストア価格 ¥22,919（本体¥20,836）
  • SPRINGER NETHERLANDS（2004発売）
  • ポイント 208pt
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