Test Vector Reordering Method for Low Power Testing : Test Vector Reordering Method for Minimizing Power Dissipation in VLSI Circuits using Functional Metrics (Aufl. 2012. 76 S. 220 mm)
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Test Vector Reordering Method for Low Power Testing : Test Vector Reordering Method for Minimizing Power Dissipation in VLSI Circuits using Functional Metrics (Aufl. 2012. 76 S. 220 mm)  Paperback

Paramasivam, K./Gunavathi, K.

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  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING(2012発売)
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Engineering Mathematics: v. 1 (6TH)
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Engineering Mathematics: v. 1 (6TH)  Paperback,  言語:ENG

Kandasamy, P./ Thilagavathi, K./ Gunavathi, K.

  • S. Chand Publishing(2004/11発売)
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