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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics)
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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics)  Paperback,  言語：ENG

Franco, Jacopo/ Kaczer, Ben/ Groeseneken, Guido

  • ウェブストア価格 ¥22,196（本体¥20,179）
  • Springer（2016/08発売）
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Bias-Temperature-Instabilities in MOSFETs with high-k dielectrics : Electrical behavior, modeling and process impact under Bias Temperature stress in high-k metal gated MOSFETs （2010. 224 S. 220 mm）
  • 洋書

Bias-Temperature-Instabilities in MOSFETs with high-k dielectrics : Electrical behavior, modeling and process impact under Bias Temperature stress in high-k metal gated MOSFETs （2010. 224 S. 220 mm）  Paperback

Aoulaiche, Marc/ Groeseneken, Guido/ Maes, Herman

  • ウェブストア価格 ¥20,108（本体¥18,280）
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING（2010発売）
  • ポイント 182pt
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