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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)  Paperback,  言語：ENG

Goel, Sandeep K. (EDT)/ Chakrabarty, Krishnendu (EDT)

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  • CRC Press（2017/03発売）
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
  • 洋書
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)  Hardcover,  言語：ENG

Goel, Sandeep K. (EDT)/ Chakrabarty, Krishnendu (EDT)

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