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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)  Paperback,  言語：ENG

Goel, Sandeep K. (EDT)/ Chakrabarty, Krishnendu (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥22,457（本体¥20,416）
  • CRC Press（2017/03発売）
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
  • 洋書
  • 電子版あり

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)  Hardcover,  言語：ENG

Goel, Sandeep K. (EDT)/ Chakrabarty, Krishnendu (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥55,123（本体¥50,112）
  • CRC Press Inc（2013/10発売）
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