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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences)
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences)  Paperback,  言語：ENG

Sadewasser, Sascha (EDT)/ Glatzel, Thilo (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥24,313（本体¥22,103）
  • Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K（2013/11発売）
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences)
  • 洋書

Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences)  Paperback

Sadewasser, Sascha (EDT)/ Glatzel, Thilo (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥55,260（本体¥50,237）
  • Springer Nature Switzerland AG（2019/01発売）
  • ポイント 502pt
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