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Semiconductor Process Reliability in Practice
  • 洋書

Semiconductor Process Reliability in Practice  Hardcover,  言語：ENG

Gan, Zhenghao/ Wong, Waisum/ Liou, Juin

  • ウェブストア価格 ¥34,405（本体¥31,278）
  • McGraw-Hill Professional（2012/11発売）
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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (Springer Series in Reliability Engineering) （2011）
  • 洋書

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (Springer Series in Reliability Engineering) （2011）  Paperback,  言語：ENG

Tan, Cher Ming/ Li, Wei/ Gan, Zhenghao

  • ウェブストア価格 ¥23,074（本体¥20,977）
  • Springer London Ltd（2013/04発売）
  • ポイント 209pt
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