Engenharia de Defeitos em Semicondutores de gap Largo : Estudo das características atribuídas à presença de defeitos em semicondutores de gap largo (2018. 128 S. 220 mm)
  • 洋書

Engenharia de Defeitos em Semicondutores de gap Largo : Estudo das características atribuídas à presença de defeitos em semicondutores de gap largo (2018. 128 S. 220 mm)  Paperback

S. de Herval, Leonilson K./ F. de Godoy, Marcio P.

  • ウェブストア価格 ¥10,384(本体¥9,440)
  • NOVAS EDICIOES ACADEMICAS(2018発売)
  • ポイント 94pt
  • オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。