Testing Sequence Dependent Defects : New Methods of Applying Two-pattern Tests and Testing Sequence Dependent Defects (2010. 116 S. 220 mm)
  • 洋書

Testing Sequence Dependent Defects : New Methods of Applying Two-pattern Tests and Testing Sequence Dependent Defects (2010. 116 S. 220 mm)  Paperback

Devta-Prasanna, Narendra

  • ウェブストア価格 ¥12,752(本体¥11,593)
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING(2010発売)
  • ポイント 115pt
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