1～1件／全1件 セーフサーチON
  •  
Single Event Upset in Dual- and Triple-Well SRAMs : Radiation-induced Charge Collection Mechanisms in sub-90nm Dual- and Triple-well CMOS SRAMs （Aufl. 2012. 96 S.）
  • 洋書
  • ポイントキャンペーン

Single Event Upset in Dual- and Triple-Well SRAMs : Radiation-induced Charge Collection Mechanisms in sub-90nm Dual- and Triple-well CMOS SRAMs （Aufl. 2012. 96 S.）  Paperback

Chatterjee, Indranil

  • ウェブストア価格 ¥12,962（本体¥11,784）
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING（2012発売）
  • ポイント 585pt
  • オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。
1～1件／全1件
  •