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Test Defect Prediction Model : Building a Prediction Model of Functional Test Defects for System Testing Using Six Sigma Methodology （Aufl. 2012. 60 S.）
  • 洋書

Test Defect Prediction Model : Building a Prediction Model of Functional Test Defects for System Testing Using Six Sigma Methodology （Aufl. 2012. 60 S.）  Paperback

Mohamed Suffian, Muhammad Dhiauddin/ Ibrahim, Suhaimi/ Abdullah, Mohamed Redzuan

  • ウェブストア価格 ¥12,051（本体¥10,956）
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING（2012発売）
  • ポイント 109pt
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