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Advances in X-Ray Analysis : Volume 27
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 27  Paperback,  言語：ENG

Cohen, Jerome B.

  • ウェブストア価格 ¥11,458（本体¥10,417）
  • Springer-Verlag New York Inc.（2011/10発売）
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Diffraction from Materials (Materials Research and Engineering .) （2. Aufl. 2013. xv, 591 S. XV, 591 p. 109 illus. 0 mm）
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Diffraction from Materials (Materials Research and Engineering .) （2. Aufl. 2013. xv, 591 S. XV, 591 p. 109 illus. 0 mm）  Paperback

Schwartz, Lyle H./ Cohen, Jerome B.

  • ウェブストア価格 ¥26,314（本体¥23,922）
  • SPRINGER, BERLIN; SPRINGER BERLIN HEIDELBERG; SPRINGE（2013発売）
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Residual Stress : Measurement by Diffraction and Interpretation (Materials Research and Engineering) （Reprint）
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Residual Stress : Measurement by Diffraction and Interpretation (Materials Research and Engineering) （Reprint）  Paperback,  言語：GER

Noyan, Ismail C./ Cohen, Jerome B.

  • ウェブストア価格 ¥33,132（本体¥30,120）
  • Springer Verlag（2012/07発売）
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Diffraction from Materials (Materials Research and Engineering) （2ND）
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Diffraction from Materials (Materials Research and Engineering) （2ND）  Hardcover,  言語：ENG

Schwartz, Lyle/ Cohen, Jerome B.

  • Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K（1987/08発売）
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