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Description
(Table of content)
Determination of the Velocity of Light.- A. Introduction.- B. Methods of determination in vacuo and in air.- C. Velocity in matter.- D. Some relativistic experiments.- References.- Optique géométrique générale.- A. Lois générales de l'optique géométrique.- B. Recherche du stigmatisme rigoureux.- C. Approximation de (Gauss).- D. Le champ.- E. Les aberrations.- F. Contraste des images; influence des aberrations.- G. Conclusion.- Bibliographie.- Interférences, diffraction et polarisation.- A. Interférences.- B. Diffraction.- C. Polarisation.- Bibliographie Sommaire.- Optik dünner Schichten.- I. Allgemeine Übersicht über die Optik dünner Schichten und die Stoffauswahl in dem vorliegenden Artikel.- II. Die Grundlagen und die Grundaufgabe der Optik dünner Schichten.- III. Reflexionsfreie Schichtsysteme und linearpolarisierend reflektierende Schichtsysteme.- IV. Steigerung der Reflexion durch dünne Schichten.- V. Interferenzfilter.- VI. Methoden zur Messung der optischen Konstanten und der Dicke dünner Schichten.- Literatur.- Schlieren-, Phasenkontrast- und Lichtschnittverfahren.- A. Übersicht.- B. Schlierenverfahren.- C. Die Beugung am Objekt bei abbildenden Schlieren verfahren und das Phasenkontrastverfahren nach (Zernike).- D. Das Lichtschnittverfahren.- E. Vergleich der Schlieren- und Phasenkontrastverfahren mit den abbildenden Interferenzverfahren.- Literatur.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German).- Table des Matières (Français).- a) Définition.- b) Composition des vibrations.- II. Interférences à deux ondes.- a) Caractères généraux des phénomènes d'interferences.- b) Etude des phénomènes d'interférences à franges non localisées.- c) Franges d'égale épaisseur des lames transparentes éclairées en lumière parallèle.- d) Franges d'égale inclinaison ou franges localisées à l'infini.- e) Influence du diamètre apparent et du monochromatisme de la source sur le contraste des franges.- g) Ondes stationnaires.- h) Interférometres à deux ondes.- III. Interférences à ondes multiples.- a) Franges par transmission.- b) Franges par reflexion.- c) Franges de superposition.- IV. Application des interférences.- a) Application des interferences à l'étude des surfaces.- b) Application des interferences à la mesure des aberrations des systèmes optiques.- c) Application des interférences à 1'observation des ob jets transparents et réfléchissants.- d) Application des interférences à la mesure des longueurs.- B. Diffraction.- I. Diffraction de (Fraunhofer) ou diffraction à l'infini.- a) Image d'une source ponctuelle par un système optique parfait.- b) Image d'une source ponctuelle par un système optique imparfait.- c) Influence de la diffraction sur les images d'objets étendus par un système optique parfait.- II. Diffraction de (Fresnel) ou diffraction à distance finie.- a) Formules générales.- b) Diffraction par les écrans circulates.- c) Diffraction par les écrans rectangulaires.- C. Polarisation.- I. Polarisation par réflexion.- a) Expériences fondamentales.- b) Interprétation des expériences précédentes.- c) Propagation des ondes électromagnétiques dans un milieu isotrope transparent.- d) Application de la théorie électromagnetique a l'étude de la lumiere réfléchie.- II. Polarisation par double réfraction.- a) Experiences sur la double réfraction.- b) Propagation d'une onde plane dans un milieu anisotrope transparent.- III. Etude de la lumière transmise par une lame cristalline éclairée en faisceauparallèle.- a) Lumière elliptique produite à la traversée d'une lame, mesure de la difference de marche.- b) Analyse d'une vibration lumineuse.- c) Polariseurs et prismes biréfringents.- IV. Interférences en lumière polarisée.- a) Interférences en lumière parallèle monochromatique.- b) Interférences en lumière blanche.- c) Interféromètres à polarisation applicables à l'etude des objets isotropes transparents.- Bibliographie Sommaire.- Optik dünner Schichten.- I. Allgemeine Übersicht über die Optik dünner Schichten und die Stoffauswahl in dem vorliegenden Artikel.- II. Die Grundlagen und die Grundaufgabe der Optik dünner Schichten.- a) Fortpflanzung einer ebenen elektromagnetischen Welle im homogenen, isotropen Medium.- b) Das Gleichungssystem für ebene elektromagnetische Wellen an einem geschichteten Medium.- c) Zwei hintereinandergesetzte Schichtsysteme.- d) Lösung der Grundaufgabe durch Rekursion.- III. Reflexionsfreie Schichtsysteme und linearpolarisierend reflektierende Schich
Contents
Determination of the Velocity of Light.- A. Introduction.- B. Methods of determination in vacuo and in air.- C. Velocity in matter.- D. Some relativistic experiments.- References.- Optique géométrique générale.- A. Lois générales de l'optique géométrique.- B. Recherche du stigmatisme rigoureux.- C. Approximation de (Gauss).- D. Le champ.- E. Les aberrations.- F. Contraste des images; influence des aberrations.- G. Conclusion.- Bibliographie.- Interférences, diffraction et polarisation.- A. Interférences.- B. Diffraction.- C. Polarisation.- Bibliographie Sommaire.- Optik dünner Schichten.- I. Allgemeine Übersicht über die Optik dünner Schichten und die Stoffauswahl in dem vorliegenden Artikel.- II. Die Grundlagen und die Grundaufgabe der Optik dünner Schichten.- III. Reflexionsfreie Schichtsysteme und linearpolarisierend reflektierende Schichtsysteme.- IV. Steigerung der Reflexion durch dünne Schichten.- V. Interferenzfilter.- VI. Methoden zur Messung der optischen Konstanten und der Dicke dünner Schichten.- Literatur.- Schlieren-, Phasenkontrast- und Lichtschnittverfahren.- A. Übersicht.- B. Schlierenverfahren.- C. Die Beugung am Objekt bei abbildenden Schlieren verfahren und das Phasenkontrastverfahren nach (Zernike).- D. Das Lichtschnittverfahren.- E. Vergleich der Schlieren- und Phasenkontrastverfahren mit den abbildenden Interferenzverfahren.- Literatur.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German).- Table des Matières (Français).
