Backhaus, Juergen G.
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Noda, Susumu (EDT)/ Baba, Toshihiko (EDT)/ Optoelectronic Industry and
Lerner, Vladimir S.
Cheung, Vincent S. L./ Luong, Howard Cam
Jochimsen, Maren A.
Grace, Martin Francis (EDT)/ Klein, Robert W./ Kleindorfer, Paul R./ M
Daniele, Patrizia (EDT)/ Giannessi, F. (EDT)/ Maugeri, A. (EDT)
Vandenbussche, J./ Gielen, G./ Steyaert, M.
Ed. by Eric M. Blalock
IFIP TC11 WG11.5 Working Conference on Integrity and Internal Control
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