Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 (Mrs Proceedings)
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Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 (Mrs Proceedings)  Paperback,  言語:ENG

Rodbell, Kenneth P. (EDT)/ Filter, William F. (EDT)/ Frost, Harold J. (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥6,740(本体¥6,128)
  • Cambridge University Press(2014/06発売)
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