Fifth International Conference on Optical and Photonics Engineering (Proceedings of SPIE)
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Fifth International Conference on Optical and Photonics Engineering (Proceedings of SPIE)  Paperback,  言語:ENG

Asundi, Anand (EDT)

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International Conference on Optical and Photonics Engineering (icOPEN 2016) (Proceedings of SPIE)
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International Conference on Optical and Photonics Engineering (icOPEN 2016) (Proceedings of SPIE)  Paperback,  言語:ENG

Asundi, Anand (EDT)/ Huang, Xiyan (EDT)/ Xie, Yi (EDT)

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International Conference on Optical and Photonic Engineering (icOPEN 2015) (Proceedings of SPIE)
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International Conference on Optical and Photonic Engineering (icOPEN 2015) (Proceedings of SPIE)  Paperback,  言語:ENG

Asundi, Anand K. (EDT)/ Fu, Yu (EDT)

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Optical Micro- and Nanometrology VII (Proceedings of SPIE)
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Optical Micro- and Nanometrology VII (Proceedings of SPIE)  Paperback,  言語:ENG

Gorecki, Christophe (EDT)/ Asundi, Anand (EDT)/ Osten, Wolfgang (EDT)

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AOPC 2017: 3D Measurement Technology for Intelligent Manufacturing (Proceedings of SPIE)
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AOPC 2017: 3D Measurement Technology for Intelligent Manufacturing (Proceedings of SPIE)  Paperback,  言語:ENG

Osten, Wolfgang (EDT)/ Asundi, Anand (EDT)/ Zhao, Huijie (EDT)

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Second International Conference on Photonics and Optical Engineering (Proceedings of SPIE)
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Second International Conference on Photonics and Optical Engineering (Proceedings of SPIE)  Paperback,  言語:ENG

Zhang, Chunmin (EDT)/ Asundi, Anand (EDT)

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International Conference on Experimental Mechanics 2014
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International Conference on Experimental Mechanics 2014  Paperback,  言語:ENG

Quan, Chenggen (EDT)/ Qian, Kemao (EDT)/ Asundi, Anand (EDT)

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The International Conference on Photonics and Optical Engineering (icPOE 2014) (Proceedings of SPIE)
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The International Conference on Photonics and Optical Engineering (icPOE 2014) (Proceedings of SPIE)  Paperback,  言語:ENG

Tian, Ailing/ Asundi, Anand/ Liu, Weiguo

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Optical Micro- and Nanometrology V (Proceedings of SPIE)
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Optical Micro- and Nanometrology V (Proceedings of SPIE)  Paperback,  言語:ENG

Gorecki, Christophe (EDT)/ Asundi, Anand (EDT)/ Osten, Wolfgang (EDT)

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Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VII (Proceedings of SPIE)
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Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VII (Proceedings of SPIE)  Paperback,  言語:ENG

Assoufid, Lahsen (EDT)/ Ohashi, Haruhiko (EDT)/ Asundi, Anand Krishna (EDT)

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