ＳＥＭの新しい世界―Ａ ｎｅｗ ｗｏｒｌｄ ｏｆ ｓｃａｎｎｉｎｇ ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ

清水 健一/三谷 智明【著】

日刊工業新聞社（2008/08発売）

• サイズ A4判／ページ数 119p／高さ 31cm
• 商品コード 9784526061219
• NDC分類 501.5
• Cコード C3054

目次

Ｌａｔｅｒａｌ　ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ　ｉｎ　ｉｎ‐ｌｅｎｓ　ＳＥ　ａｎｄ　ｈｉｇｈ　ａｎｇｌｅ　ＢＳＥ　ｉｍａｇｉｎｇ　ａｔ　ｌｏｗ　ａｃｃｅｌｅｒａｔｉｎｇ　ｖｏｌｔａｇｅｓ，　ｂｅｌｏｗ　２．０ｋＶ
Ｚ‐ｃｏｎｔｒａｓｔ　ｓｅｎｓｉｔｉｖｉｔｙ　ｉｎ　ｌｏｗ‐ｖｏｌｔａｇｅ，ｈｉｇｈ　ａｎｇｌｅ　ＢＳＥ　ｉｍａｇｉｎｇ
Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ　ｄｅｐｔｈ　ｉｎ　ｌｏｗ‐ｖｏｌｔａｇｅ，ｈｉｇｈ　ａｎｇｌｅ　ＢＳＥ　ｉｍａｇｉｎｇ
Ｎａｎｏ　ｉｎｃｌｕｓｉｏｎｓ　ｉｎ　Ｃｏ‐ｈａｒｄｅｎｅｄ　ｇｏｌｄ　ｐｌａｔｉｎｇ　ｆｏｒ　ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ　ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ―ｆｕｒｔｈｅｒ　ｅｖｉｄｅｎｃｅ　ｆｏｒ　ｈｉｇｈ　ｌａｔｅｒａｌ　ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ　ｉｎ　ｌｏｗ‐ｖｏｌｔａｇｅ，ｈｉｇｈ　ａｎｇｌｅ　ＢＳＥ　ｉｍａｇｉｎｇ
Ａ　ｔｈｉｎ　ｌａｙｅｒ　ｏｆ　ｏｒｇａｎｉｃ　ｃｏｎｔａｍｉｎａｎｔ　ｏｎ　ｔｈｅ　ｓｕｒｆａｃｅ　ｏｆ　ｍｉｒｒｏｒ‐ｐｏｌｉｓｈｅｄ　Ａｌ　ｂａｓｅｄ　ｈａｒｄ　ｄｉｓｋｓ
Ａ　ｆｕｒｔｈｅｒ　ｐｏｔｅｎｔｉａｌ　ｏｆ　ｕｌｔｒａ‐ｌｏｗ‐ｖｏｌｔａｇｅ　ｉｎ‐ｌｅｎｓ　ＳＥ　ｉｍａｇｉｎｇ
Ｓａｍｐｌｅ　ｓｕｒｆａｃｅ　ｐｒｅｐａｒａｔｉｏｎ　ｂｙ　ｕｌｔｒａｍｉｃｒｏｔｏｍｙ　ｕｓｉｎｇ　ａ　ｄｉａｍｏｎｄ　ｋｎｉｆｅ　ｆｏｒ　ｃｒｏｓｓ‐ｓｅｃｔｉｏｎａｌ　ｅｘａｍｉｎａｔｉｏｎ　ｏｆ　ｖａｒｉｏｕｓ　ｃｏａｔｉｎｇｓ　ｏｎ　ｍｅｔａｌｓ
Ｃｒｏｓｓ‐ｓｅｃｔｉｏｎａｌ　ｅｘａｍｉｎａｔｉｏｎ　ｏｆ　ａ　ｇａｌｖａｎｉｚｅｄ　ｓｔｅｅｌ
Ｃｒｏｓｓ‐ｓｅｃｔｉｏｎａｌ　ｅｘａｍｉｎａｔｉｏｎ　ｏｆ　ａ　ｐａｉｎｔｅｄ　ｓｔｅｅｌ
Ｃｒｏｓｓ‐ｓｅｃｔｉｏｎａｌ　ｅｘａｍｉｎａｔｉｏｎ　ｏｆ　ｓｏｌｄｅｒ　ｊｏｉｎｔ　ｏｆ　ａ　ｐｒｉｎｔｅｄ　ｃｉｒｃｕｉｔ　ｂｏａｒｄ〔ほか〕