内容説明
「総論」では概要、各手法の特徴と使い分けについて、「方法論」でＰＩＸＥや全反射蛍光Ｘ線などの先端的内容を、「応用編」は薄膜・半導体やユニークな物質への応用例を紹介するなど、全編を通してＸ線分析の最前線の情報を網羅した。分析技術者、材料研究者ばかりでなく、先進材料の現場においても必携の書。
目次
総論（新たな発展期を迎えたＸ線分析；Ｘ線分析の特徴と使い分け―なぜＸ線分析を使うのか）
方法論（全反射蛍光Ｘ線分析；蛍光Ｘ線の干渉現象；Ｘ線回折分析；イオン励起Ｘ線分析（ＰＩＸＥ） ほか）
応用編（半導体材料とＸ線分析；金属・無機材料とＸ線分析；有機・高分子材料とＸ線分析；カラーラウエ法による薄膜の構造解析 ほか）
著者等紹介
合志陽一［ゴウシヨウイチ］
１９３７年生。東京大学工学部応用化学科卒（工博）、国立環境研究所理事長。専門分野は工業分析化学
佐藤公隆［サトウキミタカ］
１９３７年生。東京理科大学理学部化学科卒（理博）、（株）日鉄テクノリサーチ。専門分野は表面分析、物理解析、材料科学（先進複合材料）
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