必須 統計解析の基礎

  • ただいまウェブストアではご注文を受け付けておりません。
  • サイズ B5判/ページ数 274p/高さ 24cm
  • 商品コード 9784817120328
  • NDC分類 417
  • Cコード C2041

内容説明

仕事に使える統計解析の基礎が身につく。統計解析においてぜひ知っていなければならない事柄から、品質向上や不良低減の効果を検証したり、コスト低減によって品質が低下していないかどうかを検証する手法まで、改善活動に必要な統計解析の基礎がマスターできる。

目次

第1章 母集団と統計量(母集団とサンプル;統計量 ほか)
第2章 統計的検定と推定の考え方(検定とは;検出力と検出力曲線 ほか)
第3章 計量値に関する検定と推定(計量値に関する検定と推定の手法;平均値に関する検定と推定―母分散が既知の場合の母平均の検定と推定 ほか)
第4章 計数値に関する検定と推定(計数値に関する検定と推定の手法;比率に関する検定と推定―母不良率の検定と推定 ほか)
付録 Excelの基本操作(起動と終了;画面構成と各部の名称)

著者等紹介

二見良治[フタミリョウジ]
1936年大阪府に生まれる。1960年大阪市立大学工学部電気工学科卒業。1960~73年松下電器産業株式会社勤務。現在、二見技術士事務所代表、大阪電気通信大学講師、技術士(経営工学部門)

西敏明[ニシトシアキ]
1965年徳島県に生まれる。1988年近畿大学農学部卒業。1994年大阪市立大学大学院理学研究科後期博士課程修了。現在、岡山商科大学商学部助教授、博士(理学)
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。