日本分光学会測定法シリーズ
極限状態を見る放射光アナリシス

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  • サイズ A5判/ページ数 214p/高さ 21cm
  • 商品コード 9784762229978
  • NDC分類 431.5
  • Cコード C3343

内容説明

本書は、物質科学・生命科学の中でも特に極限状態において高輝度放射光がどのように利用されているか、また今後どのように展開していくかについて、その道の専門家の方々に分担執筆をお願いしたものである。

目次

1章 はじめに
2章 極微小領域を見る―イメージング
3章 極短時間変化を追う―実時間モニタリング
4章 高エネルギー分解能分光―究極の分光
5章 極表面の構造と電子状態を見る
6章 放射光を用いた高圧下の実験
7章 スピンを見る―磁気科学
8章 超分子の構造を見る―タンパク質の高解像構造解析

著者等紹介

尾嶋正治[オシママサハル]
1972年東京大学工学部工業化学科卒業。1974年東京大学大学院工学系研究科合成化学専攻修士課程修了。同年日本電信電話公社武蔵野電気通信研究所(現NTT研究所)入社。1981‐82年スタンフォード大学客員研究員。1984年工学博士。1995年東京大学大学院工学系研究科応用化学専攻教授、現在に至る。専門は表面物理化学、放射光利用表面物性
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