目次
1 イオンビーム物質分析(RBS(ラザフォード後方散乱分光法)
ERD(反跳原子検出法)
NRD(核反応検出法)
PIXE ほか)
2 イオンビーム物質改質(イオン注入技術;イオン注入による表層改質;イオンビームデポジション;クラスターイオンビーム技術 ほか)
1 イオンビーム物質分析(RBS(ラザフォード後方散乱分光法)
ERD(反跳原子検出法)
NRD(核反応検出法)
PIXE ほか)
2 イオンビーム物質改質(イオン注入技術;イオン注入による表層改質;イオンビームデポジション;クラスターイオンビーム技術 ほか)
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