Regine, W./ Chin, L.
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Kleijnen, Jack P. C.
Souza, Paulo N. de/ Silva, Jorge-Nuno
Drew, J. H. / Evans, D. L. / Glen, A. G.
Cryer, J. D./ Chan, K.
Pires, J. Norberto
Kosmann-Schwarzbach, Y.
Ed.: Agrawal, Narendra, Smith, Stephen A.
Yuan, J. X. (EDT)/ Garcia, J. G. (EDT)/ Hales, C. A. (EDT)
Pape, H.-C. (EDT)/ Peitzman, A. (EDT)/ Schwab, C. W. (EDT)
Feeman, T.
Varon, Joseph/ Acosta, Pilar
Fan, Jianqing/ Yao, Qiwei
By Davide Maltoni, Dario Maio, Anil K. Jain et al.
Kadushin, Frederick S.
Berhow, Melissa T./ Feaster, William W./ Brock-Utne, John G.
Bhowmick, Sourav S./ Madria, Sanjay K./ Ng, Wee K.
Geoghegan, Ross
Lehmann, Erich L./Romano, J. P.
Ed. by Rainer W. G. Gruessner and David E. R. Sutherland
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