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Active Probe Atomic Force Microscopy : A Practical Guide on Precision Instrumentation （2025. xxiv, 366 S. XXIV, 366 p. 138 illus., 125 illus. in color. 235 m）
  • 洋書

Active Probe Atomic Force Microscopy : A Practical Guide on Precision Instrumentation （2025. xxiv, 366 S. XXIV, 366 p. 138 illus., 125 illus. in color. 235 m）  Paperback

Xia, Fangzhou/Rangelow, Ivo W./Youcef-Toumi, Kamal

  • ウェブストア価格 ¥18,098（本体¥16,453）
  • SPRINGER, BERLIN; SPRINGER INTERNATIONAL PUBLISHING;（2025発売）
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Active Probe Atomic Force Microscopy : A Practical Guide on Precision Instrumentation （2024. xxiv, 366 S. XXIV, 366 p. 138 illus., 125 illus. in color. 235 m）
  • 洋書

Active Probe Atomic Force Microscopy : A Practical Guide on Precision Instrumentation （2024. xxiv, 366 S. XXIV, 366 p. 138 illus., 125 illus. in color. 235 m）  Hardcover

Xia, Fangzhou/Rangelow, Ivo W./Youcef-Toumi, Kamal

  • ウェブストア価格 ¥25,060（本体¥22,782）
  • SPRINGER, BERLIN; SPRINGER（2024発売）
  • ポイント 227pt
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